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首頁>產(chǎn)品中心>三豐儀器>粗糙度、輪廓測(cè)量系統(tǒng)>SV-C3200/SV-C450三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測(cè)量儀

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測(cè)量儀

簡要描述：

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測(cè)量儀SV-C3200/SV-C4500表面粗糙度測(cè)量功能

高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的Z高顯示分辨力為0.0001μm（測(cè)量范圍為8μm時(shí)）。
X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動(dòng)距離，在搞精度精準(zhǔn)定位下，完成間距參數(shù)的評(píng)價(jià)。
檢出器測(cè)力有4mN和0.75mN可選。

更新時(shí)間：2018-03-02

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詳細(xì)介紹

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測(cè)量儀SV-C3200/SV-C4500

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測(cè)量儀SV-C3200/SV-C4500表面粗糙度測(cè)量功能

高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的zui高顯示分辨力為0.0001μm（測(cè)量范圍為8μm時(shí)）。
X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動(dòng)距離，在搞精度精準(zhǔn)定位下，完成間距參數(shù)的評(píng)價(jià)。
檢出器測(cè)力有4mN和0.75mN可選。

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測(cè)量儀SV-C3200/SV-C4500輪廓測(cè)量功能

Z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測(cè)臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測(cè)針的弧形軌跡，以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比，新測(cè)臂使Z1軸測(cè)量范圍增大了10mm,同時(shí)減少了工件的干擾。測(cè)臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測(cè)臂的裝卸，提高了易用性。
專為SV-C-4500系統(tǒng)增加了以下兩大特性作為輪廓測(cè)量系統(tǒng)的功能。
- 裝配雙錐面測(cè)針，實(shí)現(xiàn)垂直方向（上/下）連續(xù)測(cè)量，所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡單分析以往難以測(cè)量得內(nèi)螺紋有效直徑。
- 測(cè)力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無需調(diào)整配重。
的表面粗糙度/輪廓FOTMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進(jìn)行高級(jí)分析并即刻輸出結(jié)果。
表面粗糙度測(cè)試儀和輪廓度測(cè)量儀結(jié)合在一起，節(jié)省安裝空間。

三豐525系列-表面粗糙度和輪廓測(cè)量儀SV-C3200/SV-C4500規(guī)格

貨號(hào)				CV-3200S4	CV-3200H4	CV-3200W4	CV-3200S8	CV-3200H8	CV-3200W8
				CV-4500S4	CV-4500H4	CV-4500W4	CV-4500S8	CV-4500H8	CV-4500W8
★量表面粗糙度時(shí)
測(cè)量范圍	X軸（驅(qū)動(dòng)部			100MM			200MM
	Z1軸（檢出器）			800μm/80μm/8μm
直線度				（0.05+L/1000）μm L:驅(qū)動(dòng)長度（mm）			0.5μm/200mm
分辨力			Z1軸（檢出器	0.01μm（800μm），0.001μm（80μm），0.0001μm（8μm
測(cè)力				0.75mN(機(jī)身代碼末尾帶“-1”的型號(hào)) 4N(機(jī)身代碼末尾帶“-2的型號(hào))
測(cè)針針尖形狀				60°，2μmR(機(jī)身代碼末尾帶“-1”的型號(hào)) 90°，5μmR(機(jī)身代碼末尾帶“-1”的型號(hào))
對(duì)應(yīng)尺寸				JIS1982/JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ANSI/VDA
評(píng)價(jià)參數(shù)				Pa,Pq.Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,P△q,Pmr(C),Pmr,P&c,Ra,Rc,RSm,R△q,Rmr(C),Rmr,R&c, Wa,Wq.Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,W△q,Wmr(C),Wmr,W&c Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,，AW,W,Wte,Ry,RyDIN.RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,lr,,△a,λa,λq,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW
輪廓分析				原始輪廓，粗糙度輪廓，濾波波紋輪廓，波紋輪廓，滾動(dòng)圓波形原始輪廓，滾動(dòng)圓波形輪廓，包絡(luò)殘余線，DF輪廓（DIN4776/ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF（包絡(luò)波紋輪廓在評(píng)價(jià)MOTIF時(shí)顯示）
分析圖表				負(fù)荷曲線,振幅分布曲線，功率譜，自相關(guān)，Walsh功率譜，Walsh自相關(guān)，分布，傾斜角分布，參數(shù)分布（磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析）
曲線補(bǔ)充				zui小平方直線、R面補(bǔ)償、橢圓補(bǔ)償、拋物線補(bǔ)償，雙曲線補(bǔ)償，二次曲線補(bǔ)償，多頂式補(bǔ)償（自動(dòng)或任意2-7次），無補(bǔ)償
濾波器				高斯濾波器，2CRPC75，2CRPC50，2CR75，2CR50，魯棒樣條濾波器
輪廓測(cè)量
測(cè)量范圍	X軸（驅(qū)動(dòng)部）			100MM			200MM
	Z1軸（檢出器）			60mm(水平位置±30mm)
直線度				0.8μm/100mm			2μm/200mm
精度	X軸（驅(qū)動(dòng)部）			±（0.8+0.01L）μm L=驅(qū)動(dòng)長度（mm）			±（0.8+0.02L）μm L=驅(qū)動(dòng)長度（mm）
	Z1軸（檢出器）			SV-C3200系列：±（1.6+（2H）/100）μm SV-C4500系列：±（0.8+（2H）/100）μm H=水平位置上的測(cè)量高度（mm）
分辨力	X軸（驅(qū)動(dòng)部）			0.05μm
	Z1軸（檢出器）			SV-C3200系列：0.04μm SV-C4500系列：0.02μm
	Z2軸（立柱）			1μm
測(cè)力				SV-C3200系列：30mN（可調(diào)使用重量） SV-C4500系列：10,20,30,40,50mN (根據(jù)軟件轉(zhuǎn)換)
測(cè)頭方向				SV-C3200系列：垂直方向（向上/向下單獨(dú)測(cè)量） SV-C4500系列：垂直方向（向上/向下根據(jù)配重調(diào)整）
☆通用時(shí)
Z2軸（立柱）移動(dòng)量				300mm	500mm		300mm	50mm
X軸傾斜角度				±45°
驅(qū)動(dòng)速度		X軸		0-80mm/s外加手動(dòng)
		Z2軸（立柱）		0-30mm/s外加手動(dòng)
測(cè)量速度				0.02-5mm/s